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    薄膜應力測量系統的原理是怎樣的?

     更新時(shí)間:2024-04-25 點(diǎn)擊量:205
      在硅片等基板上附膜時(shí),由于基板和薄膜的物理定數有異,產(chǎn)生應力,進(jìn)而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現為基板的翹曲,而薄膜應力測量系統可從這個(gè)翹曲(曲率半徑)的變化量測量其應力。
      薄膜應力測量系統是一種用于物理學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域的工藝試驗儀器。其工作原理基于薄膜材料的內應力對薄膜表面形態(tài)的影響。當薄膜被沉積在基底表面上時(shí),薄膜材料的內應力會(huì )對薄膜表面的形態(tài)產(chǎn)生影響,而薄膜應力測量系統則通過(guò)測量薄膜表面形態(tài)的變化來(lái)間接反映薄膜材料內部應力的大小、方向和分布狀況。
      薄膜應力測量系統的發(fā)展方向包括提高測量精度、實(shí)時(shí)監測薄膜應力的變化、多參數測量、無(wú)損測量、智能化以及跨學(xué)科合作。隨著(zhù)技術(shù)的進(jìn)步,薄膜應力測量系統將在更多領(lǐng)域得到應用,并為薄膜材料的研究和應用提供有力支持。
      本公司提供的薄膜應力測量系統主要特點(diǎn):
      1.程序化控制掃描模式:?jiǎn)吸c(diǎn)掃描、選定區域、多點(diǎn)線(xiàn)性?huà)呙?、全樣品積掃描;
      2.成像功能:樣品表面2D曲率成像,定量薄膜應力2D成像分析;
      3.測量功能:薄膜應力、翹曲、曲率半徑等;
      4.支持變溫熱應力測量功能;
      5.薄膜殘余應力測量。
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