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    太陽(yáng)能電池載流子測試

    描述:太陽(yáng)能電池載流子測試(載流子遷移率測量系統,瞬態(tài)光電流/光電壓測量系統、瞬態(tài)光電性能測量系統),發(fā)光器件發(fā)光光譜分析系統以及相關(guān)器件的軟件模擬研發(fā)系統,對于光電器件微觀(guān)機理研究提供了測試方法;多功能一體化能瞬態(tài)測試平臺,不但可以測量器件的載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程、阻抗譜等,還可以對瞬態(tài)光電流譜,瞬態(tài)光電壓譜、調制光電流譜、瞬態(tài)光電壓譜等進(jìn)行測量與分析。

    更新時(shí)間:2024-04-23
    產(chǎn)品型號:
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    詳情介紹
    品牌其他品牌產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
    應用領(lǐng)域環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子
    太陽(yáng)能電池載流子測試(載流子遷移率測量系統,瞬態(tài)光電流/光電壓測量系統、瞬態(tài)光電性能測量系統),發(fā)光器件發(fā)光光譜分析系統以及相關(guān)器件的軟件仿真研發(fā)系統,對于光電器件微觀(guān)機理研究提供了測試方法;多功能一體化瞬態(tài)測試平臺,不但可以測量器件的載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程、阻抗譜等,還可以對瞬態(tài)光電流譜TPC,瞬態(tài)光電壓譜TPV、調制光電流譜IMPS、瞬態(tài)光電壓譜IMVS等進(jìn)行測量分析,分析器件中的載流子特性和瞬態(tài)過(guò)程。
    太陽(yáng)能電池載流子測試
    主要應用:
        * 無(wú)機半導體光電器件,有機半導體光電器件;
        * 有機太陽(yáng)能電池OPV;
        * 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池Perovskite Solar Cell,鈣鈦礦LED;
        * 無(wú)機太陽(yáng)能電池(例如:?jiǎn)尉Ч?、多晶硅、非晶硅等硅基太?yáng)能電池);

        * 染料敏化太陽(yáng)能電池DSSC;


    主要測量功能:
        * 功率點(diǎn)MMP、FF、Voc、Isc、VS 光強,遷移率(I-V測試 & I-V-L測試,空間電荷限制電流SCLC法)
        * 載流子密度,載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程(瞬態(tài)光電流法 TPC)
        * 載流子壽命,載流子符合動(dòng)力學(xué)過(guò)程(瞬態(tài)光電壓/瞬態(tài)開(kāi)路電壓法 TPV)
        * 載流子遷移率(暗注入瞬態(tài)法 DIT,單載流子器件&OLED)
        * 串聯(lián)電阻,幾何電容,RC時(shí)間(電壓脈沖法 Pulse Voltage)
        * 參雜密度,電容率,串聯(lián)電阻,載流子遷移率(暗態(tài)線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Dark-CELIV)
        * 載流子遷移率,載流子密度(光照線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Photo-CELIV)
        * 載流子復合過(guò)程,朗之萬(wàn)函數復合前因子(時(shí)間延遲線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Delaytime-
    CELIV)
        * 不同工作點(diǎn)的載流子強度,載流子遷移率(注入線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Injection-CELIV)
        * 幾何電容,電容率(MIS線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 MIS-CELIV)
        * 陷阱強弱度,等效電路(阻抗譜測試 IS)
        * 遷移率,陷阱強弱度,電容,串聯(lián)電阻(電容VS頻率 C-f)
        * 內建電壓,參雜濃度,注入勢壘,幾何電容(電容VS電壓 C-V)
        * 點(diǎn)亮電壓(電流電壓照度特性 I-V-L)
        * 發(fā)光壽命,載流子遷移率(瞬態(tài)電致發(fā)光法 TEL)
        *  載流子遷移率(TEL瞬態(tài)電致發(fā)光,Photo-CELIV線(xiàn)性增壓抽取載流子)
        *  OLED/鈣鈦礦LED發(fā)光特性測量(發(fā)光器件測量);
     
    太陽(yáng)能電池載流子測試
    測量技術(shù):
    1)IV/IVL特性:通過(guò)曲線(xiàn)可以得到樣品的電流電壓特性關(guān)系、電流電壓與光強的特性關(guān)系;
    *對于有機半導體材料可通過(guò)空間電荷限制電流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和遷移率等;|
    2)瞬態(tài)光電流響應法(Transient Photocurrent ):
    研究載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程和載流子密度等;
    3)瞬態(tài)光電壓(Transient Photovoltage)
    研究載流子壽命和復合過(guò)程;
    4) 雙脈沖瞬態(tài)光電流(Double Transient Photocurrent):分析電荷載流子俘獲動(dòng)態(tài)過(guò)程;
    5) 暗注入瞬態(tài)法(Dark Injection):對于單載流子器件和OLED,研究其載流子遷移率;
    6) 電壓脈沖法(Voltage Pulse):串聯(lián)電阻、幾何電容和RC效應分析;
    7) 暗態(tài)線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法(Dark-CELIV):
    參雜濃度、相對介電常數、串聯(lián)電阻、電荷載流子遷移率測量;
    8) 光照線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法(Photo-CELIV):提取有機太陽(yáng)能電池片內載流子遷移率mobility ,以及載流子濃度分析等;

    9) 時(shí)間延遲線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法(Delaytime-CELIV):復合動(dòng)態(tài)過(guò)程分析和郎之萬(wàn)復合因子分析等;
    10)注入線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法(Injection-CELIV):電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率測量分析;
    11)MIS-CELIV:幾何電容和相對介電常數分析;
    12)阻抗譜測量(Impedance Spectroscopy):
    器件等效電路分析等;
    13)電容頻率測量法(C-f): 遷移率、陷阱、幾何電容和串聯(lián)電阻測量;
    14)電容電壓測量法(C-V):內建電壓、參雜濃度和幾何電容等測量;

    15)瞬態(tài)電致發(fā)光測試(Transient Electroluminescence):抽取OLED器件的載流子,磷光壽命測量;


    另外,我公司提供其他太陽(yáng)能電池測試設備:
    1.太陽(yáng)能電池光譜響應測試系統、IPCE測試系統、量子效率測試系統;
    2.太陽(yáng)能電池測量系統(光譜響應測試系統,IPCE測試系統,量子效率測試系統,I-V曲線(xiàn)測量系統),太陽(yáng)能電池測試儀;
    3.太陽(yáng)能電池I-V曲線(xiàn)測量系統;
    4.I-V 數據采集系統;
    5.大面積太陽(yáng)能模擬器/太陽(yáng)光模擬器/全光譜太陽(yáng)光模擬器;
    6.太陽(yáng)能電池分選機;
    7.太陽(yáng)能電池I-V測試儀;
    8.分光輻射度計,
    9.參考電池/標準電池,
    10.有機太陽(yáng)能電池載流子遷移率測量系統;
    11.鈣鈦礦太陽(yáng)能電池載流子遷移率測量系統;


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